ပြားချပ်ချပ် မျက်နှာပြင် (FPD) ထုတ်လုပ်ရေး ကာလအတွင်း၊ အကန့်များ၏ လုပ်ဆောင်နိုင်စွမ်းကို စစ်ဆေးရန်နှင့် ထုတ်လုပ်မှု လုပ်ငန်းစဉ်ကို အကဲဖြတ်ရန် စမ်းသပ်မှုများကို လုပ်ဆောင်သည်။
Array လုပ်ငန်းစဉ်အတွင်း စမ်းသပ်ခြင်း။
array လုပ်ငန်းစဉ်တွင် panel function ကိုစမ်းသပ်ရန်အတွက် array tester သည် array tester၊ array probe နှင့် probe unit ကို အသုံးပြု၍ လုပ်ဆောင်သည်။ဤစမ်းသပ်မှုသည် ဖန်သားအလွှာများပေါ်ရှိ အကန့်များအတွက် ဖွဲ့စည်းထားသော TFT ခင်းကျင်းပတ်လမ်းများ၏ လုပ်ဆောင်နိုင်စွမ်းကို စမ်းသပ်ရန်နှင့် ကျိုးနေသောဝိုင်ယာကြိုးများ သို့မဟုတ် အတိုများကို သိရှိနိုင်ရန် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည်။
တစ်ချိန်တည်းမှာပင်၊ လုပ်ငန်းစဉ်၏အောင်မြင်မှုကိုစစ်ဆေးရန်နှင့်တုံ့ပြန်ချက်အတွက်ယခင်လုပ်ငန်းစဉ်ကိုစစ်ဆေးရန်အတွက် DC parameter tester၊ TEG probe နှင့် probe unit ကို TEG စမ်းသပ်မှုအတွက်အသုံးပြုပါသည်။(“TEG” သည် TFTs၊ capacitive ဒြပ်စင်များ၊ ဝိုင်ယာဒြပ်စင်များနှင့် array circuit ၏ အခြားဒြပ်စင်များအပါအဝင် Test Element Group ကို ကိုယ်စားပြုသည်။)
Unit/Module Process တွင် စမ်းသပ်ခြင်း။
ဆဲလ်လုပ်ငန်းစဉ်နှင့် module လုပ်ငန်းစဉ်များတွင် panel function ကိုစမ်းသပ်ရန်အတွက် အလင်းရောင်စစ်ဆေးမှုများကို ပြုလုပ်ခဲ့ပါသည်။
အကန့်၏လုပ်ဆောင်ချက်၊ အမှတ်ချွတ်ယွင်းချက်များ၊ လိုင်းချို့ယွင်းချက်၊ chromaticity၊ chromatic aberration (non-formity)၊ contrast စသည်တို့ကို စစ်ဆေးရန် စမ်းသပ်ပုံစံကိုပြသရန် အကန့်ကို အသက်သွင်းပြီး လင်းနေပါသည်။
စစ်ဆေးခြင်းနည်းလမ်း နှစ်ခုရှိသည်- အော်ပရေတာအမြင်အာရုံအကန့်စစ်ဆေးခြင်းနှင့် ချို့ယွင်းချက်ရှာဖွေခြင်းတို့ကို အလိုအလျောက်လုပ်ဆောင်ပေးသည့် CCD ကင်မရာကို အသုံးပြု၍ အော်ပရေတာအမြင်အာရုံစစ်ဆေးခြင်း နှင့် ချို့ယွင်းချက်စစ်ဆေးခြင်းတို့ကို အလိုအလျောက်လုပ်ဆောင်ပေးသည်။
ဆဲလ်စမ်းသပ်ကိရိယာများ၊ ဆဲလ်စစ်ဆေးခြင်းများနှင့် စုံစမ်းစစ်ဆေးခြင်းယူနစ်များကို စစ်ဆေးရန်အတွက် အသုံးပြုပါသည်။
မော်ဂျူးစမ်းသပ်မှုတွင် မျက်နှာပြင်ရှိ mura သို့မဟုတ် မညီညာမှုများကို အလိုအလျောက်သိရှိနိုင်ပြီး အလင်းထိန်းချုပ်မှုလျော်ကြေးငွေဖြင့် mura ဖယ်ရှားပေးသည့် mura ထောက်လှမ်းမှုနှင့် လျော်ကြေးပေးသည့်စနစ်ကိုလည်း အသုံးပြုထားသည်။
စာတိုက်အချိန်- Jan-18-2022