ပြားချပ်ချပ် panel display (FPD) ထုတ်လုပ်ခြင်း (FPD) ထုတ်လုပ်ခြင်းတွင်ကုန်ထုတ်လုပ်မှုလုပ်ငန်းစဉ်ကိုအကဲဖြတ်ရန် Panels နှင့် Tests ၏လုပ်ဆောင်နိုင်မှုကိုစစ်ဆေးရန်စမ်းသပ်မှုများပြုလုပ်သည်။
ခင်းကျင်းမှုလုပ်ငန်းစဉ်အတွင်းစမ်းသပ်ခြင်း
Array process တွင် panel function ကိုစမ်းသပ်ရန်အတွက် Array test ကို array tester, array prote နှင့် Probe ယူနစ်ကို အသုံးပြု. ဖျော်ဖြေသည်။ ဤစစ်ဆေးမှုသည် TFT Array circuits ၏လုပ်ဆောင်နိုင်မှုကိုဖန်ခွက်အလွှာရှိပြားများတပ်ဆင်ထားသည့်အတွက်ဖွဲ့စည်းရန်နှင့်မည်သည့်ဝါယာကြိုးများသို့မဟုတ်ဘောင်းဘီတိုများကိုရှာဖွေရန်ဒီဇိုင်းပြုလုပ်ထားသည်။
တစ်ချိန်တည်းမှာပင်, array လုပ်ငန်းစဉ်၏လုပ်ငန်းစဉ်၏လုပ်ငန်းစဉ်၏လုပ်ငန်းစဉ်၏လုပ်ငန်းစဉ်၏လုပ်ငန်းစဉ်ကိုစစ်ဆေးရန်နှင့်ယခင်ဖြစ်စဉ်ကိုတုံ့ပြန်ချက်, DC Parameter Tester, Teg စမ်းသပ်မှုအတွက် Teg Prode နှင့် Probe ယူနစ်ကိုအသုံးပြုသည်။ ("TEG" သည် TPL Element Elements, Capacitive element များ, ဝါယာကြိုးများနှင့်ပတ် 0 န်းကျင် circuit ၏အခြားဒြပ်စင်များအပါအ 0 င်စမ်းသပ်ဒြပ်စင်အဖွဲ့အတွက်ရပ်တည်သည်။ )
ယူနစ် / module လုပ်ငန်းစဉ်အတွက်စမ်းသပ်ခြင်း
ဆဲလ်လုပ်ငန်းစဉ်နှင့် module လုပ်ငန်းစဉ်များတွင် panel function ကိုစမ်းသပ်ရန်အတွက်အလင်းရောင်စမ်းသပ်မှုများကိုပြုလုပ်ခဲ့သည်။
Panel စစ်ဆင်ရေး, point ချို့ယွင်းချက်များ, လိုင်းချို့ယွင်းချက်များ, ခရိုတိန်ခြင်း,
စစ်ဆေးမှုရှာဖွေတွေ့ရှိခြင်းနှင့်စာမေးပွဲများကိုအလိုအလျောက်စစ်ဆေးခြင်းကိုအလိုအလျောက်စစ်ဆေးခြင်းကို အသုံးပြု. CCD ကင်မရာကို အသုံးပြု. အော်ပရေတာအမြင်အာရုံဆိုင်ရာ panel စစ်ဆေးခြင်းနှင့်အလိုအလျောက် panel စစ်ဆေးခြင်း။
ဆဲလ်စစ်ဆေးသူများ, ဆဲလ်စုံစမ်းစစ်ဆေးမှုများနှင့်စုံစမ်းစစ်ဆေးမှုများကိုစစ်ဆေးခြင်းအတွက်အသုံးပြုကြသည်။
Module Test သည် Mura သို့မဟုတ်မညီမညာဖြစ်နေသောလျော်ကြေးများကိုအလိုအလျောက်စစ်ဆေးပြီး Mura ကိုအလိုအလျောက်ထိန်းချုပ်ထားသည့်လျော်ကြေးပေးခြင်းဖြင့်ပြုလုပ်သော Mura Detection System ကိုလည်းအသုံးပြုသည်။
Post Time: Jan-18-2022