flat panel display (FPD) ထုတ်လုပ်စဉ်အတွင်း panel များ၏ လုပ်ဆောင်နိုင်စွမ်းကို စစ်ဆေးရန် စမ်းသပ်မှုများနှင့် ထုတ်လုပ်မှုလုပ်ငန်းစဉ်ကို အကဲဖြတ်ရန် စမ်းသပ်မှုများကို ပြုလုပ်ပါသည်။
array လုပ်ငန်းစဉ်အတွင်း စမ်းသပ်ခြင်း
array လုပ်ငန်းစဉ်တွင် panel လုပ်ဆောင်ချက်ကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် array tester၊ array probe နှင့် probe unit တို့ကို အသုံးပြု၍ array စမ်းသပ်မှုကို ပြုလုပ်သည်။ ဤစမ်းသပ်မှုကို ဖန်သားအောက်ခံများပေါ်တွင် panel များအတွက် ဖွဲ့စည်းထားသော TFT array circuit များ၏ လုပ်ဆောင်နိုင်စွမ်းကို စမ်းသပ်ရန်နှင့် ပြတ်တောက်နေသော ဝါယာကြိုးများ သို့မဟုတ် short များကို ထောက်လှမ်းရန် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည်။
တစ်ချိန်တည်းမှာပင်၊ လုပ်ငန်းစဉ်၏အောင်မြင်မှုကိုစစ်ဆေးရန်နှင့် ယခင်လုပ်ငန်းစဉ်ကိုတုံ့ပြန်ရန်အတွက် array လုပ်ငန်းစဉ်တွင် လုပ်ငန်းစဉ်ကိုစမ်းသပ်ရန်အတွက်၊ TEG စမ်းသပ်မှုအတွက် DC parameter tester၊ TEG probe နှင့် probe unit တို့ကိုအသုံးပြုသည်။ (“TEG” သည် array circuit ၏ TFTs၊ capacitive element များ၊ wire element များနှင့် အခြား element များအပါအဝင် Test Element Group ကိုကိုယ်စားပြုသည်။)
ယူနစ်/မော်ဂျူး လုပ်ငန်းစဉ်တွင် စမ်းသပ်ခြင်း
ဆဲလ်လုပ်ငန်းစဉ်နှင့် မော်ဂျူးလုပ်ငန်းစဉ်တွင် panel လုပ်ဆောင်ချက်ကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် အလင်းရောင်စမ်းသပ်မှုများကို ပြုလုပ်ခဲ့ပါသည်။
ပြား၏လုပ်ဆောင်ချက်၊ အစက်အပြောက်များ၊ မျဉ်းချို့ယွင်းချက်များ၊ ရောင်စုံဖြစ်မှု၊ ရောင်စုံလွဲချော်မှု (တသမတ်တည်းမရှိခြင်း)၊ ဆန့်ကျင်ဘက်အရောင် စသည်တို့ကို စစ်ဆေးရန် စမ်းသပ်ပုံစံကိုပြသရန် ပြားကို အသက်သွင်းပြီး မီးထွန်းထားသည်။
စစ်ဆေးခြင်းနည်းလမ်းနှစ်ခုရှိသည်- အော်ပရေတာမြင်နိုင်သော panel စစ်ဆေးခြင်းနှင့် ချို့ယွင်းချက်ရှာဖွေခြင်းနှင့် အောင်မြင်/မအောင်မြင်စမ်းသပ်မှုကို အလိုအလျောက်လုပ်ဆောင်သည့် CCD ကင်မရာကို အသုံးပြု၍ အလိုအလျောက် panel စစ်ဆေးခြင်း။
စစ်ဆေးရန်အတွက် ဆဲလ်စမ်းသပ်ကိရိယာများ၊ ဆဲလ်စမ်းသပ်ကိရိယာများနှင့် စမ်းသပ်ယူနစ်များကို အသုံးပြုသည်။
မော်ဂျူးစမ်းသပ်မှုတွင် mura သို့မဟုတ် မျက်နှာပြင်တွင် မညီမညာဖြစ်မှုကို အလိုအလျောက် ထောက်လှမ်းပြီး အလင်းထိန်းချုပ်ထားသော လျော်ကြေးဖြင့် mura ကို ဖယ်ရှားပေးသည့် mura ထောက်လှမ်းခြင်းနှင့် လျော်ကြေးပေးသည့်စနစ်ကိုလည်း အသုံးပြုသည်။
ပို့စ်တင်ချိန်: ၂၀၂၂ ခုနှစ်၊ ဇန်နဝါရီလ ၁၈ ရက်