အဆင့်မြင့် အလင်းစစ်ဆေးရေးစနစ်များအတွက် အလွန်တိကျသော ဖန်အစိတ်အပိုင်းများသည် အဘယ်ကြောင့် အရေးကြီးသနည်း။

ယနေ့ခေတ်တွင် semiconductor wafers၊ EV battery foils သို့မဟုတ် micro-optics များအတွက်ဖြစ်စေ sub-micron ချို့ယွင်းချက်ရှာဖွေခြင်းခေတ်တွင် optical inspection system ၏စွမ်းဆောင်ရည်သည် ကင်မရာများနှင့် algorithms များပေါ်တွင်သာမက ၎င်း၏ optical path ၏ ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာတည်ငြိမ်မှုပေါ်တွင်ပါ မူတည်ပါသည်။ ဤတည်ငြိမ်မှု၏ အဓိကအချက်မှာ အလွန်တိကျသောဖန်အစိတ်အပိုင်းများဖြစ်သည်- မှန်ဘီလူးများ၊ ပြတင်းပေါက်များ၊ prisms များနှင့် nanometer-level tolerances များဖြင့် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားပြီး အထူးပြု low-expansion ပစ္စည်းများဖြင့် ပြုလုပ်ထားသည်။

ဖုံးကွယ်ထားသောစိန်ခေါ်မှု- အလင်းလမ်းကြောင်းများတွင် အပူစီးဆင်းမှု

• ULE® (အလွန်နိမ့်သော ချဲ့ထွင်မှုဖန်) – CTE ≈ ±0.03 ppb/°C အခန်းအပူချိန်အနီး
• Zerodur® (Schott) – CTE 0–50°C အထက်တွင် < 0.1 ppb/°C
• Clearceram-HS / TiO₂-doped ဖန်ကြွေထည်များ – မြင့်မားသော ඔප දැමීමဖြင့် သုညနီးပါး CTE ပါရှိသည်

တိကျသောဖန်ကြိတ်ခွဲခြင်း- မိုက်ခရွန်များသည် မစ်ရှင်-အရေးပါလာသည့်နေရာ

• λ/20 မျက်နှာပြင်တိကျမှုအတွက် sub-aperture polishing နှင့် magnetorheological finishing (MRF)
• တယ်လီဗဟိုပြု မှန်ဘီလူး တပ်ဆင်မှုများအတွက် ဝင်းဒိုးအတွဲများတွင် Parallelism ≤1 arcsec
• brightfield/darkfield imaging တွင် scatter ကို လျှော့ချရန် မျက်နှာပြင် roughness <0.5 nm RMS
• 405 nm၊ 532 nm သို့မဟုတ် SWIR လှိုင်းအလျားများအတွက် အကောင်းဆုံးဖြစ်အောင် ပြုလုပ်ထားသော စိတ်ကြိုက် AR အပေါ်ယံလွှာများ

“ကျွန်ုပ်တို့၏ ရည်ညွှန်းဝင်းဒိုးကို BK7 မှ Zerodur သို့ ပြောင်းလဲခြင်းဖြင့် ကျွန်ုပ်တို့၏ PCB AOI စနစ်တွင် အဆင့်ဆင့်တိုင်းတာမှုကွဲလွဲမှုကို ၆၂% လျှော့ချပေးခဲ့သည်။”
— အလင်းဒီဇိုင်းခေါင်းဆောင်၊ အဆင့် ၁ မျက်စိပစ္စည်းထုတ်လုပ်သူ

ဖန်ထည်ထက်ကျော်လွန်၍- ပေါင်းစပ်ထားသော ဘက်စုံပစ္စည်းဖြေရှင်းချက်များ

• ဖိအားသုည kinematic mounting အတွက် low-expansion glass ကို Invar mounts များနှင့် ချိတ်ဆက်ခြင်း
• ကိုက်ညီသော CTE interface များပါရှိသော အလူမီနီယမ်အိမ်များထဲသို့ ဖန်ပရစ်ဇမ်များ ပေါင်းစပ်ခြင်း
• embedded fiducials ပါ၀င်သည့် hybrid optical-mechanical modules များကို ပူးတွဲတီထွင်ခြင်း

ကျွန်ုပ်တို့ ပံ့ပိုးပေးသော အပလီကေးရှင်းများ

• တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း wafer နှင့် reticle စစ်ဆေးခြင်း
• ပြားချပ်ချပ် မျက်နှာပြင် (FPD) ချို့ယွင်းချက် ရှာဖွေခြင်း
• လီသီယမ်-အိုင်းယွန်းဘက်ထရီ အီလက်ထရုတ် စကင်န်ဖတ်ခြင်း
• အက်စ်ဖီးယားမှန်ဘီလူးများအတွက် တိကျသော မက်ထရိုလိုဂျီ
• မြင့်မားသော ရုပ်ထွက်အရည်အသွေးရှိသော 3D ဖွဲ့စည်းထားသော အလင်းပရိုဂျက်တာများ

သင့်စစ်ဆေးရေးစနစ်တွင် အပူရွေ့လျားမှုကို ဖယ်ရှားရန် အဆင်သင့်ဖြစ်ပြီလား။