တိကျမှုမြင့်မားသော ထုတ်လုပ်မှုနှင့် မက်ထရိုလိုဂျီတို့၏ တင်းကျပ်သောကမ္ဘာတွင်၊ ပြီးပြည့်စုံသော အလျားလိုက် ချိန်ညှိမှုရရှိရန်မှာ ညှိနှိုင်း၍မရပါ။ sub-arcsecond တိကျမှု လိုအပ်သည့်အခါ ရိုးရာ bubble level များသည် မကြာခဏ ပျက်ကွက်လေ့ရှိသည်။ ဤနေရာတွင် အဆင့်မြင့်တိုင်းတာသည့်ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည့် Electronic Level သည် မရှိမဖြစ်ကိရိယာတစ်ခု ဖြစ်လာသည်။ ၎င်းသည် အလွန်တိကျမှုရှိသော သေးငယ်သောထောင့်များနှင့် စောင်းများကို တိုင်းတာရန် မယှဉ်နိုင်သောစွမ်းရည်ကို ပေးစွမ်းပြီး အရှုပ်ထွေးဆုံးစက်ပစ္စည်းများနှင့် ကိရိယာများ၏ ဂျီဩမေတြီတိကျမှုကို အတည်ပြုရာတွင် အရေးကြီးသောအခန်းကဏ္ဍမှ ပါဝင်ပါသည်။
အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်များနောက်ကွယ်မှ လိမ္မာပါးနပ်သော ရူပဗေဒ
အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်များသည် အဓိကအားဖြင့် အလွန်အာရုံခံနိုင်စွမ်းရှိသော ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာမူနှစ်ခုဖြစ်သည့် inductance principle နှင့် capacitance principle တို့မှတစ်ဆင့် လုပ်ဆောင်သည်။ ၎င်းတို့၏ ဒီဇိုင်းပေါ် မူတည်၍ ဤကိရိယာများသည် တစ်ဖက်မြင် (1D) သို့မဟုတ် နှစ်ဖက်မြင် (2D) တွင် စောင်းမှုကို တိုင်းတာနိုင်သည်။
Inductive Electronic Level သည် သံလိုက်စီးကြောင်းပြောင်းလဲမှုပေါ်တွင် မူတည်သည်။ တိုင်းတာနေသော အလုပ်၏ စောင်းမှုကြောင့် တူရိယာ၏အောက်ခြေ စောင်းသွားသောအခါ၊ အတွင်းပိုင်း pendulum သို့မဟုတ် အာရုံခံနိုင်သော ဒြပ်ထုသည် ၎င်း၏ အနေအထားကို ရွှေ့သွားသည်။ ဤလှုပ်ရှားမှုသည် အနီးနားရှိ induction coil တွင် သက်ဆိုင်ရာ ဗို့အားပြောင်းလဲမှုကို ဖြစ်ပေါ်စေပါသည်။ ဤဗို့အားပြောင်းလဲမှု၏ ပမာဏကို စောင်းထောင့်အဖြစ် တိုက်ရိုက်ပြောင်းလဲပေးသည်။
ဆန့်ကျင်ဘက်အနေနဲ့ Capacitive Electronic Level ဟာ လျှပ်စစ် capacitance ပြောင်းလဲမှုတွေကို အသုံးပြုပါတယ်။ ၎င်းရဲ့ အလယ်ဗဟိုမှာ သေးငယ်တဲ့ ဝါယာကြိုးတစ်ခုနဲ့ လွတ်လပ်စွာ ဆိုင်းထားတဲ့ စက်ဝိုင်းပုံ pendulum တစ်ခုရှိပြီး ဆွဲငင်အားရဲ့ လွှမ်းမိုးမှုအောက်မှာ ပွတ်တိုက်မှုကင်းတဲ့ အခြေအနေမှာ ထိရောက်စွာ လည်ပတ်နေပါတယ်။ ဒီ pendulum ရဲ့ တစ်ဖက်တစ်ချက်စီမှာ အီလက်ထရုတ်တွေကို ထားရှိပါတယ်။ level ဟာ အလျားလိုက် လုံးဝဖြစ်နေတဲ့အခါ နှစ်ဖက်စလုံးရဲ့ လေကွာဟချက်ဟာ ညီမျှပြီး capacitance တန်ဖိုးတွေကို ဖြစ်ပေါ်စေပြီး တူညီတဲ့ capacitance တန်ဖိုးတွေကို ဖြစ်ပေါ်စေပါတယ်။ level ဟာ workpiece ရဲ့ လွှမ်းမိုးမှုကြောင့် pendulum ရွေ့သွားပြီး ကွာဟချက်အကွာအဝေးတွေဟာ မညီမျှဖြစ်လာစေပါတယ်။ အကွာအဝေးပြောင်းလဲမှုကြောင့် capacitance မှာ တိုင်းတာနိုင်တဲ့ ကွာခြားချက်ကို ဖြစ်ပေါ်စေပြီး အဲဒါကို ထောင့်တိုင်းတာမှုအဖြစ် တိကျစွာ ပြောင်းလဲပေးပါတယ်။
မြင့်မားသောတိကျမှုရှိသောကိရိယာတန်ဆာပလာများတွင်အသုံးချမှုများ
အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်သည် မြင့်မားသောတိကျမှုရှိသော စက်ကိရိယာများနှင့် တိုင်းတာသည့်ပစ္စည်းများ၏ ပြားချပ်မှုနှင့် ချိန်ညှိမှုကို အတည်ပြုရန်အတွက် မရှိမဖြစ်လိုအပ်ပါသည်။ ၎င်း၏ အလွန်အမင်းအာရုံခံနိုင်စွမ်းကြောင့် ဤကိရိယာသည် စနစ်တစ်ခုလုံး၏ စွမ်းဆောင်ရည်အတွက် အရေးကြီးသော အသေးအဖွဲသွေဖည်မှုများကို ထောက်လှမ်းနိုင်သည်။ ၎င်းကို NC ခုံများ၊ ကြိတ်စက်များ၊ ဖြတ်တောက်သည့်စင်တာများနှင့် ကိုဩဒိနိတ်တိုင်းတာသည့်စက်များ (CMM) ကဲ့သို့သော အဆင့်မြင့်စက်ယန္တရားများ၏ အခြေခံမျက်နှာပြင်များကို တိုင်းတာရန် ပုံမှန်အသုံးပြုလေ့ရှိသည်။ ၎င်း၏ မြင့်မားသော ရုပ်ထွက်အရည်အသွေးကြောင့် ကန့်သတ်ထားသော တိုင်းတာမှုအပိုင်းအခြား (မကြာခဏ ± 25 စကေးခွဲမှုများ၏ ရွေ့လျားမှုကို ခွင့်ပြုရန် တွက်ချက်လေ့ရှိသည်) တွင်ပင် ကိရိယာသည် ကျဉ်းမြောင်းပြီး သတ်မှတ်ထားသော စောင်းအကွာအဝေးအတွင်း တိကျသော တိုင်းတာမှုများကို ပေးစွမ်းနိုင်ပြီး စက်တပ်ဆင်မှု၏ တည်တံ့မှုကို သေချာစေသည်။
ပြားချပ်မှု အတည်ပြုခြင်းတွင် အခန်းကဏ္ဍ- ခြစ်ရာပါသော မျက်နှာပြင်ပြား
အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်၏ အထူးအစွမ်းထက်သော အသုံးချမှုတစ်ခုမှာ ခြစ်ရာပါသော ဂရန်နိုက် သို့မဟုတ် သံမျက်နှာပြင်ပြားများကဲ့သို့သော မြင့်မားသောတိကျမှုရှိသော ရည်ညွှန်းမျက်နှာပြင်များကို စစ်ဆေးခြင်းဖြစ်သည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်သည် မျက်နှာပြင်ပြားချပ်မှုကို အကဲဖြတ်ရန်အတွက် ရိုးရှင်းသော်လည်း အလွန်တိကျသော နည်းလမ်းတစ်ခုကို ပေးစွမ်းသည်။
ဤအခြေခံပြားများကို စစ်ဆေးရန် အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်ကို အသုံးပြုသည့်အခါ အဓိကလုပ်ထုံးလုပ်နည်းဆိုင်ရာ အဓိကအာရုံစိုက်မှုမှာ ဆက်စပ်တံတား (သို့မဟုတ် တိုင်းတာသည့်ပစ္စည်း) အတွက် သင့်လျော်သော span length ကို ဆုံးဖြတ်ခြင်းဖြစ်ပြီး၊ ၎င်းသည် စမ်းသပ်နေသောပြား၏ ಒಟ್ಟಾರೆအရွယ်အစားပေါ်တွင် မူတည်ပါသည်။ အရေးကြီးသည်မှာ စမ်းသပ်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်တစ်ခုလုံးတွင် ဤတံတား၏ရွေ့လျားမှုသည် တင်းကြပ်စွာ အပြန်အလှန်ချိတ်ဆက်ပြီး ထပ်နေရမည်။ ဤဂရုတစိုက်၊ အဆင့်ဆင့် စစ်တမ်းကောက်ယူခြင်းနည်းလမ်း—နောက်ဆက်တွဲတိုင်းတာမှုအမှတ်တစ်ခုစီသည် ယခင်တစ်ခုနှင့် ပြန်လည်ချိတ်ဆက်ထားသည်—သည် နောက်ဆုံးတွက်ချက်ထားသော ပြားချပ်မှုတန်ဖိုးသည် မျက်နှာပြင်မြေမျက်နှာသွင်ပြင်နှင့် တတ်နိုင်သမျှနီးစပ်ကြောင်း သေချာစေသည့် အဓိကအချက်ဖြစ်သည်။
နိဂုံးချုပ်
ရိုးရာပူဖောင်းအဆင့်များမှ ခေတ်မီသောအီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်များအထိ တိုးတက်ပြောင်းလဲလာခြင်းသည် အရည်အသွေးထိန်းချုပ်မှုနှင့် မက်ထရိုလိုဂျီတွင် သိသာထင်ရှားသော ခုန်ပျံကျော်လွှားမှုကို ကိုယ်စားပြုသည်။ အခြေခံရူပဗေဒ—induction သို့မဟုတ် capacitance ဖြစ်စေ—ကို အသုံးချခြင်းဖြင့် ဤကိရိယာများသည် တိကျသောပစ္စည်းကိရိယာများ၏ အခြေခံညှိနှိုင်းမှုသည် အတိကျဆုံးစံနှုန်းများနှင့် ကိုက်ညီကြောင်း သေချာစေရန် လိုအပ်သောဒေတာများကို ပံ့ပိုးပေးသည်။ တိကျမှုနှင့် ထုတ်ကုန်အရည်အသွေးကို အလေးထားသော မည်သည့်စက်ရုံအတွက်မဆို အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်ကို နားလည်ခြင်းနှင့် အကောင်အထည်ဖော်ခြင်းသည် အကောင်းဆုံးလုပ်ဆောင်မှုတစ်ခုသာမက ယှဉ်ပြိုင်နိုင်စွမ်းကို ထိန်းသိမ်းရန်အတွက် အခြေခံလိုအပ်ချက်တစ်ခုဖြစ်သည်။
ပို့စ်တင်ချိန်: ၂၀၂၅ ခုနှစ်၊ နိုဝင်ဘာလ ၂၁ ရက်
