တိကျသော Granite တိကျမှုကို အသိအမှတ်ပြုရန်အတွက် နည်းပညာဆိုင်ရာ နည်းလမ်းများနှင့် ပရိုတိုကောများ

တိကျသောကျောက်တုံးစမ်းသပ်ခြင်းပလပ်ဖောင်းသည် ထပ်ခါတလဲလဲနိုင်သော၊ တိကျသောတိုင်းတာခြင်း၏အခြေခံအုတ်မြစ်ဖြစ်သည်။ ရိုးရှင်းသော မျက်နှာပြင်ပြားမှ ရှုပ်ထွေးသော စတုရန်းအထိ—အသုံးပြုရန် သင့်လျော်သည်ဟု ယူဆရသည့် မည်သည့် Granite tool မဆိုမီ၊ ၎င်း၏ တိကျမှုကို တိကျစွာ စစ်ဆေးရပါမည်။ ZHONGHUI Group (ZHHIMG) ကဲ့သို့သော ထုတ်လုပ်သူများသည် 000၊ 00၊ 0 နှင့် 1 ကဲ့သို့သော အဆင့်များတစ်လျှောက် ပလပ်ဖောင်းများကို တင်းကျပ်သော အရည်အသွေးထိန်းချုပ်မှုစံနှုန်းများကို လိုက်နာပါသည်။ ဤအသိအမှတ်ပြုလက်မှတ်သည် မျက်နှာပြင်၏ ချောမွေ့မှုအမှန်ကို သတ်မှတ်သည့် နည်းပညာပိုင်းဆိုင်ရာနည်းလမ်းများအပေါ်တွင် မူတည်ပါသည်။

Flatness ကိုဆုံးဖြတ်ခြင်း- အဓိကနည်းလမ်းများ

Granite Platform ကို အသိအမှတ်ပြုခြင်း၏ အဓိက ရည်ရွယ်ချက်မှာ ၎င်း၏ ပြားချပ်ချပ် အမှား (FE) ကို ဆုံးဖြတ်ရန် ဖြစ်သည်။ ဤအမှားအယွင်းကို အမှန်တကယ်လုပ်ဆောင်နေသည့်မျက်နှာပြင်၏ အမှတ်များအားလုံးပါရှိသော အပြိုင်လေယာဉ်နှစ်စင်းကြား အနိမ့်ဆုံးအကွာအဝေးအဖြစ် အခြေခံအားဖြင့် သတ်မှတ်ထားသည်။ ဗေဒင်ဆရာများသည် ဤတန်ဖိုးကို ဆုံးဖြတ်ရန် အသိအမှတ်ပြုထားသော နည်းစနစ်လေးခုကို အသုံးပြုသည်-

အချက်သုံးချက်နှင့် ထောင့်ဖြတ်နည်းလမ်းများ- ဤနည်းလမ်းများသည် မျက်နှာပြင်မြေမျက်နှာသွင်ပြင်၏ လက်တွေ့ကျသော အခြေခံအကဲဖြတ်ချက်များကို ပေးဆောင်သည်။ အချက်သုံးချက် နည်းလမ်းသည် မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ ကျယ်ပြောလှသော ပိုင်းခြားထားသည့် အချက်သုံးချက်ကို ရွေးချယ်ခြင်းဖြင့် အကဲဖြတ်သည့် ရည်ညွှန်းလေယာဉ်ကို တည်ထောင်ကာ FE ကို ချိတ်ဆက်ထားသော အပြိုင်လေယာဉ်နှစ်စင်းကြားအကွာအဝေးဖြင့် FE ကို သတ်မှတ်ပေးသည်။ ထောင့်ဖြတ်နည်းလမ်းသည် စက်မှုလုပ်ငန်းစံနှုန်းအဖြစ် အသုံးပြုလေ့ရှိပြီး အများအားဖြင့် တံတားပြားနှင့် တွဲဖက်၍ အီလက်ထရွန်နစ်အဆင့်ကဲ့သို့ ခေတ်မီသောကိရိယာများကို အသုံးပြုသည်။ ဤတွင်၊ ရည်ညွှန်းလေယာဉ်အား ထောင့်ဖြတ်မျဉ်းတစ်လျှောက်တွင် တပ်ဆင်ထားပြီး မျက်နှာပြင်တစ်ခုလုံးတွင် အမှားအယွင်းဖြန့်ဝေမှုကို ဖမ်းယူရန် ထိရောက်သောနည်းလမ်းကို ပေးဆောင်သည်။

အသေးငယ်ဆုံးမြှောက်ကိန်းနှစ်ခု (အနည်းဆုံးစတုရန်းများ) နည်းလမ်း- ဤသည်မှာ သင်္ချာနည်းအရ အခိုင်မာဆုံး ချဉ်းကပ်မှုဖြစ်သည်။ ၎င်းသည် တိုင်းတာထားသော အမှတ်များအားလုံးမှ လေယာဉ်ကိုယ်နှိုက်သို့ အကွာအဝေး၏ နှစ်ထပ်ကိန်းများကို ရည်ညွှန်းလေယာဉ်အဖြစ် သတ်မှတ်သည်။ ဤစာရင်းအင်းနည်းလမ်းသည် ချောမွေ့မှု၏ ရည်ရွယ်ချက်အရှိဆုံး အကဲဖြတ်မှုကို ပံ့ပိုးပေးသော်လည်း တွက်ချက်မှုများတွင် ရှုပ်ထွေးမှုများကြောင့် အဆင့်မြင့်ကွန်ပြူတာလုပ်ဆောင်ခြင်း လိုအပ်ပါသည်။

သေးငယ်သောဧရိယာနည်းလမ်း- ဤနည်းပညာသည် တိုင်းတာထားသော မျက်နှာပြင်အမှတ်များအားလုံးကို လွှမ်းခြုံရန် လိုအပ်သော အသေးဆုံးဧရိယာ၏ အကျယ်အားဖြင့် အမှားတန်ဖိုးကို ဆုံးဖြတ်သည့် ကွက်လပ်၏ ဂျီဩမေတြီဆိုင်ရာ အဓိပ္ပါယ်ဖွင့်ဆိုချက်နှင့် တိုက်ရိုက်ကိုက်ညီပါသည်။

Parallelism ကို ကျွမ်းကျင်အောင်လုပ်ခြင်း- Dial Indicator Protocol

အခြေခံကျစ်လျစ်မှုအပြင်၊ ကျောက်တုံးစတုရန်းများကဲ့သို့သော အထူးပြုကိရိယာများသည် ၎င်းတို့၏ အလုပ်လုပ်နေသော မျက်နှာများကြားတွင် ပြိုင်တူဖြစ်နေကြောင်း အတည်ပြုရန် လိုအပ်ပါသည်။ ဒိုင်ခွက်ညွှန်ပြသည့်နည်းလမ်းသည် ဤလုပ်ငန်းအတွက် အလွန်သင့်လျော်သော်လည်း ၎င်း၏ယုံကြည်စိတ်ချရမှုသည် စေ့စေ့စပ်စပ်လုပ်ဆောင်မှုတွင် လုံးဝသက်ရောက်သည်။

ကနဦးရည်ညွှန်းချက်အဖြစ် ပလက်ဖောင်းနှင့် ဂရုတစိုက် ချိန်ညှိထားသည့် Granite စတုရန်း၏ တိုင်းတာသည့်မျက်နှာတစ်ခုအား အသုံးပြု၍ တိကျသောမြင့်မားသောရည်ညွှန်းမျက်နှာပြင်ပြားပေါ်တွင် စစ်ဆေးခြင်းကို အမြဲတမ်းလုပ်ဆောင်ရပါမည်။ အရေးကြီးသောအဆင့်သည် စစ်ဆေးမှုအောက်တွင် မျက်နှာပေါ်ရှိ တိုင်းတာခြင်းအမှတ်များကို ချမှတ်ခြင်းဖြစ်သည်—၎င်းတို့သည် ကျပန်းမဟုတ်ပေ။ ပြီးပြည့်စုံသော အကဲဖြတ်မှုကို သေချာစေရန်၊ မျက်နှာပြင်အစွန်းမှ 5 မီလီမီတာခန့်အကွာတွင် စစ်ဆေးရေးဂိတ်ကို အလယ်တွင် အညီအမျှ ကွက်လပ်ပုံစံဖြင့် ဖြည့်သွင်းထားပြီး ပုံမှန်အားဖြင့် အမှတ် 20 မီလီမီတာမှ 50 မီလီမီတာအထိ ခြားထားသည်။ ဤတိကျသောဇယားကွက်သည် အသွင်အပြင်တစ်ခုစီကို အညွှန်းဖြင့်စနစ်တကျပုံဖော်ထားကြောင်း သေချာစေသည်။

အရေးကြီးသည်မှာ၊ သက်ဆိုင်ရာ ဆန့်ကျင်ဘက်မျက်နှာကို စစ်ဆေးသောအခါ၊ ကျောက်တုံးစတုရန်းကို 180 ဒီဂရီ လှည့်ရပါမည်။ ဤအကူးအပြောင်းသည် အလွန်ဂရုစိုက်ရန် လိုအပ်သည်။ ကိရိယာသည် ရည်ညွှန်းပန်းကန်ပြားကို ဖြတ်၍ ဘယ်သောအခါမှ လျှောမချရပါ။ ဂရုတစိုက် ရုတ်သိမ်းပြီး နေရာချထားပေးရပါမယ်။ ဤမရှိမဖြစ်လိုအပ်သော ကိုင်တွယ်မှုပရိုတိုကောသည် တိကျသောမျက်နှာပြင်နှစ်ခုကြားရှိ ပွန်းပဲ့သောထိတွေ့မှုကို တားဆီးပေးကာ စတုရန်းနှင့် ရည်ညွှန်းပလပ်ဖောင်းနှစ်ခုစလုံး၏ ခက်ခဲစွာရရှိထားသောတိကျမှုကို ရေရှည်အတွက်ကာကွယ်ပေးသည်။

ZHHIMG ၏ တိကျသောအဆင့် 00 စတုရန်းများကဲ့သို့ အဆင့်မြင့်ကိရိယာများ၏ တင်းကျပ်စွာသည်းခံနိုင်မှုကို ရရှိခြင်းသည် ကျောက်တုံးရင်းမြစ်၏ သာလွန်ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာဂုဏ်သတ္တိများနှင့် တင်းကျပ်သော တိကျသေချာသော တိုင်းတာမှုပရိုတိုကောများကို အသုံးပြုခြင်းအတွက် သက်သေတစ်ခုဖြစ်သည်။