CMM သည် အရာနှစ်ခုကို လုပ်ဆောင်သည်။ ၎င်းသည် စက်၏ ရွေ့လျားနေသော ဝင်ရိုးပေါ်တွင် တပ်ဆင်ထားသော ထိတွေ့စမ်းသပ်ကိရိယာမှတစ်ဆင့် အရာဝတ္ထု၏ ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာ ဂျီသြမေတြီနှင့် အတိုင်းအတာကို တိုင်းတာသည်။ ၎င်းသည် ပြင်ဆင်ထားသော ဒီဇိုင်းနှင့် တူညီကြောင်း သေချာစေရန် အစိတ်အပိုင်းများကိုလည်း စမ်းသပ်သည်။ CMM စက်သည် အောက်ပါအဆင့်များမှတစ်ဆင့် လုပ်ဆောင်သည်။
တိုင်းတာမည့် အစိတ်အပိုင်းကို CMM ၏အောက်ခြေတွင် ထားရှိသည်။ အောက်ခြေသည် တိုင်းတာသည့်နေရာဖြစ်ပြီး တည်ငြိမ်ပြီး မာကျောသော သိပ်သည်းသောပစ္စည်းမှ ပြုလုပ်ထားသည်။ တည်ငြိမ်မှုနှင့် မာကျောမှုသည် လုပ်ဆောင်ချက်ကို အနှောင့်အယှက်ဖြစ်စေနိုင်သော ပြင်ပအင်အားများ မည်သို့ပင်ရှိစေကာမူ တိုင်းတာမှုသည် တိကျမှန်ကန်ကြောင်း သေချာစေသည်။ CMM ပြားအထက်တွင် ထိတွေ့နိုင်သော စမ်းသပ်ကိရိယာတပ်ဆင်ထားသော ရွေ့လျားနိုင်သော gantry တစ်ခုလည်း တပ်ဆင်ထားသည်။ ထို့နောက် CMM စက်သည် စမ်းသပ်ကိရိယာကို X၊ Y နှင့် Z ဝင်ရိုးတစ်လျှောက် ညွှန်ကြားရန် gantry ကို ထိန်းချုပ်သည်။ ထိုသို့ပြုလုပ်ခြင်းဖြင့် တိုင်းတာမည့် အစိတ်အပိုင်းများ၏ ရှုထောင့်တိုင်းကို ပုံတူကူးယူသည်။
တိုင်းတာမည့် အစိတ်အပိုင်း၏ အမှတ်တစ်ခုကို ထိလိုက်သည်နှင့် probe သည် ကွန်ပျူတာက မြေပုံဆွဲထုတ်ပေးသည့် လျှပ်စစ်အချက်ပြမှုကို ပေးပို့သည်။ အစိတ်အပိုင်းပေါ်ရှိ အမှတ်များစွာဖြင့် အဆက်မပြတ်ပြုလုပ်ခြင်းဖြင့် အစိတ်အပိုင်းကို တိုင်းတာမည်ဖြစ်သည်။
တိုင်းတာပြီးနောက်၊ နောက်တစ်ဆင့်မှာ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုအဆင့်ဖြစ်ပြီး၊ probe သည် အစိတ်အပိုင်း၏ X၊ Y နှင့် Z ကိုဩဒိနိတ်များကို ဖမ်းယူပြီးနောက်ဖြစ်သည်။ ရရှိလာသော အချက်အလက်များကို အင်္ဂါရပ်များတည်ဆောက်ရန်အတွက် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသည်။ ကင်မရာ သို့မဟုတ် လေဆာစနစ်ကို အသုံးပြုသော CMM စက်များအတွက် လုပ်ဆောင်ချက်ယန္တရားသည် အတူတူပင်ဖြစ်သည်။
ပို့စ်တင်ချိန်: ၂၀၂၂ ခုနှစ်၊ ဇန်နဝါရီလ ၁၉ ရက်