Granite အစိတ်အပိုင်းများကို တိကျသောထုတ်လုပ်မှုနယ်ပယ်တွင် ကျယ်ကျယ်ပြန့်ပြန့်အသုံးပြုကြပြီး အဓိကအညွှန်းကိန်းအဖြစ် ၎င်း၏စွမ်းဆောင်ရည်နှင့် ထုတ်ကုန်အရည်အသွေးကို တိုက်ရိုက်ထိခိုက်စေပါသည်။ အောက်ဖော်ပြပါသည် ကျောက်စရစ်ခဲအစိတ်အပိုင်းများ၏ ပြန့်ကျဲမှုကို ထောက်လှမ်းသည့် နည်းလမ်း၊ စက်ကိရိယာနှင့် လုပ်ငန်းစဉ်အတွက် အသေးစိတ် နိဒါန်းဖြစ်သည်။
I. ထောက်လှမ်းခြင်းနည်းလမ်းများ
1. Flat crystal interference method- တိကျမှုမြင့်မားသော granite အစိတ်အပိုင်း flatness detection အတွက် သင့်လျော်သော၊ ဥပမာ optical instrument base, ultra-precision measurement platform, etc. Flat crystal (high flatness with very high flatness) ကို လေယာဉ်ပေါ်တွင် စစ်ဆေးရမည့် granite အစိတ်အပိုင်းနှင့် နီးကပ်စွာ ချိတ်တွဲထားပြီး အလင်းလှိုင်းဝင်ရောက်မှုနိယာမအရ၊ အလင်းသည် ပြားချပ်ချပ်ပုံသဏ္ဍာန်နှင့် granite ၏ မျက်နှာပြင်ကို ဖြတ်သွားသောအခါတွင် အနှောင့်အယှက်ဖြစ်စေသော အစိတ်အပိုင်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ အဖွဲ့ဝင်၏လေယာဉ်သည် လုံးဝပြားနေပါက၊ အနှောင့်အယှက်အစွန်းများသည် အပြိုင်မျဉ်းဖြောင့်မျဉ်းများဖြစ်ပြီး တူညီသောအကွာအဝေး၊ လေယာဉ်သည် ခုံးနေပြီး ခုံးနေပါက၊ အစွန်းများသည် ကွေးပြီး ပုံပျက်သွားမည်ဖြစ်သည်။ အစွန်းအဖျားများ၏ ကွေးညွှတ်မှုဒီဂရီနှင့် အကွာအဝေးအရ၊ ပြားချပ်မှုအမှားကို ဖော်မြူလာဖြင့် တွက်ချက်သည်။ တိကျမှုသည် နာနိုမီတာအထိ ရှိနိုင်ပြီး လေယာဉ်ငယ်၏ သွေဖည်မှုကို တိကျစွာ သိရှိနိုင်သည်။
2. အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့် တိုင်းတာခြင်းနည်းလမ်း- စက်ကိရိယာအိပ်ရာ၊ ကြီးမားသော gantry စီမံဆောင်ရွက်သည့် ပလပ်ဖောင်းကဲ့သို့သော ကြီးမားသော ကျောက်တုံးအစိတ်အပိုင်းများတွင် အသုံးပြုလေ့ရှိသည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်ကို တိုင်းတာသည့်အမှတ်ကို ရွေးချယ်ပြီး သီးခြားတိုင်းတာသည့်လမ်းကြောင်းတစ်လျှောက် ရွေ့လျားရန်အတွက် အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်ကို ဂရန်စတုံးအစိတ်အပိုင်း၏ မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် ချထားပါသည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်သည် အတွင်းအာရုံခံကိရိယာမှတဆင့် သူ့ဘာသာသူနှင့် ဆွဲငင်အားအကြားရှိ Angle ၏ပြောင်းလဲမှုကို အချိန်နှင့်တပြေးညီတိုင်းတာပြီး ၎င်းအား အဆင့်သွေဖည်သည့်ဒေတာအဖြစ်သို့ ပြောင်းလဲပေးသည်။ တိုင်းတာသည့်အခါ၊ တိုင်းတာရေးဇယားကွက်တစ်ခုတည်ဆောက်ရန်၊ X နှင့် Y လမ်းညွှန်ချက်များရှိ အချို့သောအကွာအဝေးတွင် တိုင်းတာသည့်အမှတ်များကို ရွေးချယ်ပြီး အမှတ်တစ်ခုစီ၏ဒေတာကို မှတ်တမ်းတင်ရန် လိုအပ်သည်။ ဒေတာလုပ်ဆောင်ခြင်းဆော့ဖ်ဝဲလ်၏ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းဖြင့်၊ ကျောက်တုံးအစိတ်အပိုင်းများ၏ မျက်နှာပြင်ညီညာမှုကို တပ်ဆင်နိုင်ပြီး တိုင်းတာမှုတိကျမှုသည် မိုက်ခရိုနအဆင့်အထိ ရောက်ရှိနိုင်သည်၊ ၎င်းသည် စက်မှုလုပ်ငန်းမြင်ကွင်းအများစုတွင် ကြီးမားသောအစိတ်အပိုင်းများ ပြားချပ်လာမှုကို သိရှိခြင်း၏လိုအပ်ချက်များကို ဖြည့်ဆည်းပေးနိုင်သည်။
3. CMM ထောက်လှမ်းခြင်းနည်းလမ်း- အထူးပုံသဏ္ဍာန်ပုံစံမှိုများအတွက် မှိုများအတွက် granite ကဲ့သို့ ရှုပ်ထွေးသော ပုံသဏ္ဍာန်ရှိသော granite အစိတ်အပိုင်းများပေါ်တွင် ကျယ်ကျယ်ပြန့်ပြန့် ချောမွေ့မှုကို ဖော်ထုတ်နိုင်သည်။ CMM သည် probe မှတဆင့် သုံးဖက်မြင် အာကာသအတွင်း ရွေ့လျားပြီး တိုင်းတာသည့် အမှတ်များ၏ သြဒီနိတ်များကို ရယူရန်အတွက် granite အစိတ်အပိုင်း၏ မျက်နှာပြင်ကို ထိသည်။ တိုင်းတာရေးအမှတ်များကို အစိတ်အပိုင်းလေယာဉ်ပေါ်တွင် အညီအမျှခွဲဝေပေးပြီး တိုင်းတာရေးရာဇမတ်ကွက်ကို တည်ဆောက်ထားသည်။ စက်သည် အမှတ်တစ်ခုစီ၏ သြဒီနိတ်ဒေတာကို အလိုအလျောက် စုဆောင်းသည်။ ပရော်ဖက်ရှင်နယ် တိုင်းတာခြင်းဆော့ဖ်ဝဲလ်ကို အသုံးပြုခြင်းဖြင့် ချောမွေ့မှု အမှားကို တွက်ချက်ရန် သြဒီနိတ်ဒေတာကို အသုံးပြုခြင်းသည် ပြားချပ်ခြင်းကို ထောက်လှမ်းနိုင်ရုံသာမက အစိတ်အပိုင်းအရွယ်အစား၊ ပုံသဏ္ဍာန်နှင့် အနေအထားသည်းခံနိုင်မှု နှင့် အခြားသော ဘက်ပေါင်းစုံမှ အချက်အလက်များကို ရရှိနိုင်သည်၊ စက်ကိရိယာများ၏ တိကျမှုအရ တိုင်းတာခြင်းတိကျမှုသည် ယေဘူယျအားဖြင့် မိုက်ခရိုမှ အနည်းငယ်မှ ဆယ်ဂဏန်းကြား၊ မြင့်မားသော ပြောင်းလွယ်ပြင်လွယ်၊ ယမ်းစိမ်းအမျိုးအစားအမျိုးမျိုးအတွက် သင့်လျော်သည်။
II စမ်းသပ်ကိရိယာများပြင်ဆင်ခြင်း။
1. တိကျမှုမြင့်မားသော ပြားချပ်ချပ်ပုံသလင်းကျောက်- နာနိုမီတာ အနည်းငယ်အတွင်း ပြားချပ်ချပ် အမှားအယွင်းရှိသော စူပါတိကျသော ပြားချပ်ချပ်ပုံသလင်းကျောက်ကို ရွေးချယ်ရန် လိုအပ်ပြီး နာနိုမီတာ အနည်းငယ်အတွင်း ပြားချပ်ချပ်ချပ်ပုံသဏ္ဍန်၏ အချင်းသည် အနိမ့်ဆုံး အရွယ်အစားထက် အနည်းငယ် ပိုကြီးသင့်သည်။
2. အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်- တိကျမှုမြင့်မားသောထောက်လှမ်းမှုအတွက် သင့်လျော်သော တိုင်းတာမှုတိကျသော 0.001mm/m ကဲ့သို့သော အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်ဖြစ်သည့် တိုင်းတာမှုတိကျမှန်ကန်မှုနှင့် ကိုက်ညီသည့် အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်ကို ရွေးချယ်ပါ။ တစ်ချိန်တည်းမှာပင်၊ ကိုက်ညီသောသံလိုက်ဇယားအခြေခံတစ်ခုသည် granite အစိတ်အပိုင်း၏မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်ကို ခိုင်မာစွာစုပ်ယူနိုင်စေရန်အတွက် ပြင်ဆင်ထားပြီး ဒေတာရယူခြင်းကြိုးများနှင့် ကွန်ပျူတာဒေတာရယူခြင်းဆော့ဖ်ဝဲကို အချိန်နှင့်တစ်ပြေးညီ မှတ်တမ်းတင်ခြင်းနှင့် တိုင်းတာခြင်းတို့ကို ရရှိစေရန်အတွက် ပြင်ဆင်ထားပါသည်။
3. ညှိနှိုင်းတိုင်းတာခြင်းကိရိယာ- ကျောက်တုံးအစိတ်အပိုင်းများ၏ အရွယ်အစားအရ သြဒီနိတ်တိုင်းကိရိယာ၏ သင့်လျော်သောအရွယ်အစားကို ရွေးချယ်ရန် ပုံသဏ္ဍာန်ရှုပ်ထွေးမှု။ ကြီးမားသော အစိတ်အပိုင်းများသည် ကြီးမားသော လေဖြတ်ကိရိယာများ လိုအပ်ပြီး ရှုပ်ထွေးသော ပုံသဏ္ဍာန်များသည် တိကျမှုမြင့်မားသော ပစ္စတင်များနှင့် အစွမ်းထက်သော တိုင်းတာခြင်းဆော့ဖ်ဝဲလ်ပါရှိသော ကိရိယာများ လိုအပ်ပါသည်။ ထောက်လှမ်းခြင်းမပြုမီ၊ စုံစမ်းစစ်ဆေးမှုတိကျမှုနှင့် ညှိနှိုင်းတည်နေရာတိကျမှုကိုသေချာစေရန် CMM ကို ချိန်ညှိထားသည်။
III စမ်းသပ်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်
1. Flat crystal interferometry လုပ်ငန်းစဉ်-
◦ စစ်ဆေးရမည့် ကျောက်တုံး အစိတ်အပိုင်းများ၏ မျက်နှာပြင်နှင့် ညီညာသော သလင်းကျောက်မျက်နှာပြင်ကို သန့်ရှင်းစေပြီး ဖုန်မှုန့်၊ ဆီနှင့် အခြားအညစ်အကြေးများကို ဖယ်ရှားရှင်းလင်းရန်၊ နှစ်ခုကွာဟမှုမရှိဘဲ တင်းတင်းကြပ်ကြပ် အံဝင်ခွင်ကျဖြစ်စေရန် ရေဓာတ်ကို အီသနောဖြင့် သုတ်ပါ။
ပြားချပ်ချပ်သလင်းကျောက်ကို ကျောက်တုံးကြီး၏ မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် ဖြည်းညှင်းစွာ ထားကာ ပူဖောင်းများ သို့မဟုတ် တိမ်းစောင်းခြင်းများကို ရှောင်ရှားရန် နှစ်ခုလုံးကို လုံးလုံးလျားလျား ထိတွေ့စေရန် ပေါ့ပေါ့ပါးပါး နှိပ်ပါ။
◦ အမှောင်ခန်းပတ်ဝန်းကျင်တွင်၊ monochromatic အလင်းရင်းမြစ် (ဆိုဒီယမ်မီးခွက်ကဲ့သို့သော) ကို ဒေါင်လိုက်တောက်ပသောပုံဆောင်ခဲကို တောက်ပစေရန်၊ အထက်မှဝင်ရောက်စွက်ဖက်သောအစွန်းအထင်းများကို စောင့်ကြည့်လေ့လာပြီး အစွန်းအဖျားများ၏ ပုံသဏ္ဍာန်၊ ဦးတည်ချက်နှင့် ကွေးကောက်မှုဒီဂရီတို့ကို မှတ်တမ်းတင်ရန် အသုံးပြုပါသည်။
◦ ဝင်ရောက်စွက်ဖက်သော အစွန်းအဖျားအချက်အလက်များကို အခြေခံ၍ သက်ဆိုင်ရာဖော်မြူလာကို အသုံးပြု၍ ချောမွတ်မှုအမှားကို တွက်ချက်ပြီး အရည်အချင်းပြည့်မီခြင်းရှိ၊ မရှိ ဆုံးဖြတ်ရန် အစိတ်အပိုင်း၏ ချောမွေ့မှုခံနိုင်ရည်လိုအပ်ချက်များနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါ။
2. အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့် တိုင်းတာခြင်း လုပ်ငန်းစဉ်-
◦ တိုင်းတာရေးအမှတ်၏တည်နေရာကိုဆုံးဖြတ်ရန် ကျောက်တုံးအစိတ်အပိုင်း၏မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် တိုင်းတာရေးဇယားကွက်တစ်ခုကို ရေးဆွဲထားပြီး၊ ဆက်စပ်လျက်ရှိသောတိုင်းတာရေးမှတ်များ၏အကွာအဝေးသည် ယေဘုယျအားဖြင့် အစိတ်အပိုင်း၏အရွယ်အစားနှင့် တိကျမှုလိုအပ်ချက်များနှင့်အညီ ကျိုးကြောင်းဆီလျော်စွာသတ်မှတ်ထားသည်။
◦ သံလိုက်စားပွဲအခြေတွင် အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်ကို တပ်ဆင်ပြီး တိုင်းတာရေးဇယား၏ အစမှတ်သို့ ချိတ်ပါ။ အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်ကို စတင်ပြီး ဒေတာတည်ငြိမ်ပြီးနောက် ကနဦးအဆင့်ကို မှတ်တမ်းတင်ပါ။
◦ အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်အမှတ်ကို တိုင်းတာရေးလမ်းကြောင်းတစ်လျှောက် အမှတ်ဖြင့် ရွှေ့ပြီး တိုင်းတာသည့်အမှတ်အားလုံးကို တိုင်းတာသည်အထိ တိုင်းတာသည့်အမှတ်တစ်ခုစီတွင် အတိုင်းအတာဒေတာကို မှတ်တမ်းတင်ပါ။
◦ တိုင်းတာထားသောဒေတာကို ဒေတာလုပ်ဆောင်ခြင်းဆော့ဖ်ဝဲထဲသို့ တင်သွင်းပါ၊ ပြားချပ်ချပ်နှင့်ကိုက်ညီရန် အနိမ့်ဆုံးစတုရန်းပုံနည်းလမ်းနှင့် အခြားသော အယ်လဂိုရီသမ်များကို အသုံးပြုပါ၊ ပြားချပ်ချပ်အမှားအယွင်းအစီရင်ခံစာကို ထုတ်ပေးပါ၊ အစိတ်အပိုင်း၏ ပြားချပ်မှုသည် စံနှုန်းအထိရှိမရှိ အကဲဖြတ်ပါ။
3. CMM ၏ ထောက်လှမ်းမှု လုပ်ငန်းစဉ်-
◦ တိုင်းတာမှုအတွင်း အစိတ်အပိုင်းသည် ရွေ့လျားခြင်းမရှိကြောင်း သေချာစေရန် CMM အလုပ်စားပွဲပေါ်တွင် ကျောက်တုံးကျောက်တုံးအစိတ်အပိုင်းကို ချထားပြီး ခိုင်ခံ့စွာ ပြုပြင်ရန် ကိရိယာကို အသုံးပြုပါ။
◦ အစိတ်အပိုင်း၏ ပုံသဏ္ဍာန်နှင့် အရွယ်အစားအရ၊ တိုင်းတာခြင်းဆိုင်ရာ အမှတ်များ ဖြန့်ဖြူးမှုကို ဆုံးဖြတ်ရန်၊ လေယာဉ်၏ လွှမ်းခြုံမှုကို စစ်ဆေးရန်နှင့် တိုင်းတာမှုအမှတ်များ တစ်ပြေးညီ ဖြန့်ကျက်ရန် တိုင်းတာခြင်းလမ်းကြောင်းကို တိုင်းတာခြင်းဆော့ဖ်ဝဲတွင် စီစဉ်ထားပါသည်။
◦ CMM ကိုစတင်ပါ၊ စီစဉ်ထားသည့်လမ်းကြောင်းအတိုင်း စုံစမ်းစစ်ဆေးမှုကိုရွှေ့ပါ၊ ကျောက်တုံးအစိတ်အပိုင်းမျက်နှာပြင်တိုင်းတာခြင်းအမှတ်များကို ဆက်သွယ်ပါ၊ အမှတ်တစ်ခုစီ၏ သြဒီနိတ်ဒေတာကို အလိုအလျောက်စုဆောင်းပါ။
◦ တိုင်းတာခြင်းပြီးသောအခါ၊ တိုင်းတာခြင်းဆော့ဖ်ဝဲသည် စုဆောင်းထားသော သြဒိနိတ်ဒေတာကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာပြီး လုပ်ဆောင်ပေးသည်၊ ပြားချပ်ချပ်အမှားကို တွက်ချက်ကာ စမ်းသပ်မှုအစီရင်ခံစာကို ထုတ်ပေးကာ အစိတ်အပိုင်း၏ ချောမွေ့မှုသည် စံသတ်မှတ်ချက်နှင့် ကိုက်ညီမှုရှိမရှိ ဆုံးဖြတ်ပေးသည်။
If you have better advice or have any questions or need any further assistance, contact us freely: info@zhhimg.com
စာတိုက်အချိန်- မတ် ၂၈-၂၀၂၅