လျှောက်လွှာနှင့် အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်များ၏ အခြေခံမူ

အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်များသည် inductive နှင့် capacitive သဘောတရားနှစ်ခုပေါ်တွင်လုပ်ဆောင်သည်။ တိုင်းတာမှု ဦးတည်ချက်ပေါ်မူတည်၍ ၎င်းတို့ကို တစ်ဖက်မြင် သို့မဟုတ် နှစ်ဘက်မြင်အဖြစ် အမျိုးအစားခွဲခြားနိုင်သည်။ inductive နိယာမ- workpiece ကို တိုင်းတာခြင်းကြောင့် အဆင့်၏အောက်ခြေသည် တိမ်းစောင်းသွားသောအခါ၊ အတွင်းချိန်သီး၏ ရွေ့လျားမှုသည် induction coil တွင် ဗို့အားပြောင်းလဲမှု ဖြစ်စေသည်။ အဆင့်၏ capacitive နိယာမတွင် ဆွဲငင်အားကြောင့် ထိခိုက်ပြီး ပွတ်တိုက်မှုမရှိသော အခြေအနေတွင် ပါးလွှာသော ဝါယာကြိုးပေါ်တွင် လွတ်လွတ်လပ်လပ် ဆိုင်းငံ့ထားသော စက်ဝိုင်းချိန်သီးတစ်လုံး ပါဝင်ပါသည်။ Electrodes များသည် ချိန်သီး၏ နှစ်ဖက်စလုံးတွင် တည်ရှိပြီး ကွာဟချက် တူညီသောအခါတွင် capacitance သည် ညီမျှသည်။ သို့သော်လည်း၊ workpiece ကိုတိုင်းတာခြင်းကြောင့် အဆင့်ကို ထိခိုက်ပါက၊ electrode နှစ်ခုကြားရှိ ကွာဟချက်သည် capacitance ကွာခြားမှုကို ဖန်တီးပေးပြီး ထောင့်ခြားနားမှုကို ဖြစ်ပေါ်စေပါသည်။

အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်များသည် inductive နှင့် capacitive သဘောတရားနှစ်ခုပေါ်တွင်လုပ်ဆောင်သည်။ တိုင်းတာမှု ဦးတည်ချက်ပေါ်မူတည်၍ ၎င်းတို့ကို တစ်ဖက်မြင် သို့မဟုတ် နှစ်ဘက်မြင်အဖြစ် အမျိုးအစားခွဲခြားနိုင်သည်။ inductive နိယာမ- workpiece ကို တိုင်းတာခြင်းကြောင့် အဆင့်၏အောက်ခြေသည် တိမ်းစောင်းသွားသောအခါ၊ အတွင်းချိန်သီး၏ ရွေ့လျားမှုသည် induction coil တွင် ဗို့အားပြောင်းလဲမှု ဖြစ်စေသည်။ capacitive level ၏ တိုင်းတာခြင်းမူမှာ ပါးလွှာသော ဝါယာကြိုးပေါ်တွင် လွတ်လပ်စွာ ဆိုင်းထားသော စက်ဝိုင်းချိန်သီးတစ်ခု ဖြစ်သည်။ ချိန်သီးသည် ဆွဲငင်အားကြောင့် ထိခိုက်ပြီး ပွတ်တိုက်မှုမရှိသော အခြေအနေတွင် ဆိုင်းငံ့ထားသည်။ Electrodes များသည် ချိန်သီး၏ နှစ်ဖက်စလုံးတွင် တည်ရှိပြီး ကွာဟချက် တူညီသောအခါတွင် capacitance သည် ညီမျှသည်။ သို့သော်လည်း၊ workpiece တိုင်းတာမှုကြောင့် အဆင့်ကို ထိခိုက်ပါက၊ ကွာဟချက်သည် ပြောင်းလဲသွားကာ မတူညီသော capacitances နှင့် angle ကွဲပြားမှုများကို ဖြစ်ပေါ်စေပါသည်။

အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်များကို NC စက်ကိရိယာများ၊ ကြိတ်စက်များ၊ ဖြတ်တောက်သည့်စက်များနှင့် 3D တိုင်းတာရေးစက်များကဲ့သို့သော တိကျသောစက်ကိရိယာများ၏ မျက်နှာပြင်များကို တိုင်းတာရန်အတွက် အသုံးပြုသည်။ ၎င်းတို့တွင် အလွန်မြင့်မားသော အာရုံခံနိုင်စွမ်းရှိ၍ တိုင်းတာမှုအတွင်း 25 ဒီဂရီ ဘယ်ဘက် သို့မဟုတ် ညာဖက်သို့ နှောင့်ယှက်မှုကို ခွင့်ပြုနိုင်ပြီး အချို့သော စောင်းအကွာအဝေးအတွင်း တိုင်းတာမှုကို ခွင့်ပြုသည်။

အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်များသည် ခြစ်ထားသောပန်းကန်ပြားများကို စစ်ဆေးခြင်းအတွက် ရိုးရှင်းပြီး လိုက်လျောညီထွေရှိသောနည်းလမ်းကို ပေးစွမ်းသည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်ကို အသုံးပြုရန်အတွက် အဓိကသော့ချက်မှာ စစ်ဆေးခံရသည့် ပန်းကန်ပြား၏ အရွယ်အစားပေါ် မူတည်၍ အရှည်နှင့် ဆက်စပ်တံတားပြားကို ဆုံးဖြတ်ခြင်းဖြစ်သည်။ တိကျသောတိုင်းတာမှုများသေချာစေရန် တံတားပြား၏ရွေ့လျားမှုသည် စစ်ဆေးရေးလုပ်ငန်းစဉ်အတွင်း အဆက်မပြတ်ဖြစ်နေရပါမည်။