မျက်နှာပြင်ပြားပြားချပ်ချပ်ကို နာနိုမီတာတိကျမှုဖြင့် မည်သို့တိုင်းတာသည်

တိကျသော ဂရန်နိုက် မျက်နှာပြင်ပြားသည် စက်မှုမက်ထရိုလိုဂျီတွင် အခြေခံအကျဆုံးကိရိယာများထဲမှ တစ်ခုဖြစ်သည်။ ၎င်းသည် အလုပ်ရုံတစ်ခုတွင် အခြားတိုင်းတာမှုတိုင်းကို နောက်ဆုံးတွင် နှိုင်းယှဉ်သည့် ရည်ညွှန်းဒေတာအဖြစ် ဆောင်ရွက်သည်။ မျက်နှာပြင်ပြား မတိကျပါက၊ ၎င်းကိုအသုံးပြု၍ ပြုလုပ်သော တိုင်းတာမှုတိုင်းသည် ထိုမတိကျမှုကို ဆက်လက်သယ်ဆောင်သွားမည်ဖြစ်ပြီး၊ စစ်ဆေးရေးဒေတာနှင့် ထုတ်လုပ်မှုဆုံးဖြတ်ချက်များကို တိတ်တဆိတ်ညစ်ညမ်းစေမည်ဖြစ်သည်။

စက်မှုလုပ်ငန်းသုံး အသုံးချမှုအများစုအတွက်၊ မျက်နှာပြင်ပြားကြီးတစ်ခုတစ်လျှောက် မိုက်ခရိုမီတာအနည်းငယ်အတွင်း ပြားချပ်မှုကို ရရှိရန် လက်ခံနိုင်ပါသည်။ သို့သော် ခေတ်မီဆန်းသစ်သော — တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း ချိန်ညှိခြင်း၊ အမျိုးသားစံချိန်စံညွှန်းဓာတ်ခွဲခန်းများ၊ ဖိုတိုလစ်သိုဂရပ်ဖီ ရည်ညွှန်းစနစ်များနှင့် အလွန်မြင့်မားသောတိကျမှု CMM အရည်အချင်းစစ်ခြင်း — ပြားချပ်မှုကို နာနိုမီတာအဆင့်အထိ အတည်ပြုရပါမည်။ ထို့နောက် မေးခွန်းမှာ- ၎င်းကို တိုင်းတာရန် ပုံမှန်ရရှိနိုင်သော ကိရိယာများထက် ပိုမိုတိကျသော စံနှုန်းတစ်ခုအထိ မည်သို့တိုင်းတာမည်နည်း။

ဤဆောင်းပါးသည် မိုက်ခရိုမီတာအဆင့်မှ နာနိုမီတာအထိ မျက်နှာပြင်ပြားပြားချပ်ချပ်ကို အတည်ပြုရန်နှင့် ရရှိရန်အသုံးပြုသည့် အခြေခံမူများ၊ နည်းလမ်းများနှင့် ကိရိယာများကို လေ့လာစူးစမ်းပါသည်။

ဘာကြောင့် ပြားချပ်ချပ်ဖြစ်မှုက သင်ထင်ထားတာထက် ပိုအရေးကြီးတာလဲ

မျက်နှာပြင်ပြားပြားပြားချပ်ချပ်ကို အလုပ်လုပ်သည့်ဧရိယာတစ်လျှောက် အများဆုံးခွင့်ပြုနိုင်သောအမှား (MPE) ဖြင့် သတ်မှတ်ထားပြီး မကြာခဏ မိုက်ခရိုမီတာ (μm) ဖြင့် ဖော်ပြလေ့ရှိသည်။ အဆင့် AA (နိုင်ငံတကာစံနှုန်းအများစုအောက်တွင် အကောင်းဆုံးစီးပွားဖြစ်အဆင့်) သည် ဂျာမန် DIN 876 စံနှုန်းအောက်ရှိ 1000 × 630 မီလီမီတာပြားအတွက် သို့မဟုတ် အမေရိကန် ASME B89.3.7 စံနှုန်းအောက်ရှိ သတ်မှတ်ထားသော သည်းခံနိုင်စွမ်းအတွင်းတွင် 1.6 μm အတွင်း ပြားချပ်ချပ်ဖြစ်ရန် လိုအပ်သည်။

ဒါပေမယ့် အခြေအနေကသာ အရာအားလုံးပါ။ အစမှအဆုံးအထိ 3 μm သွေဖည်မှုကို တိုင်းတာတဲ့ “ပြားချပ်ချပ်” မျက်နှာပြင်ပြားဟာ အထွေထွေအလုပ်ရုံစစ်ဆေးမှုအတွက် လုံးဝလုံလောက်ပါတယ်။ 10-nanometer နေရာချထားမှုတိကျမှုအတွက် ရည်ရွယ်တဲ့ ဖိုတိုလစ်သိုဂရပ်ဖီအဆင့်ကို ချိန်ညှိဖို့အတွက် reference datum အဖြစ်အသုံးပြုတဲ့ မျက်နှာပြင်ပြားတစ်ခုတည်းဟာ လုံးဝမသင့်တော်ပါဘူး - ၎င်းရဲ့ ပြားချပ်ချပ်အမှားတစ်ခုတည်းဟာ ၎င်းပံ့ပိုးပေးဖို့ ရည်ရွယ်ထားတဲ့ နေရာချထားမှုခံနိုင်ရည်ထက် 300 ဆ ပိုများပါတယ်။

“အသုံးချမှုအများစုအတွက် လုံလောက်သော ကောင်းမွန်မှု” နှင့် “အလိုအပ်ဆုံးအသုံးချမှုများအတွက် လုံလောက်သော ကောင်းမွန်မှု” အကြား ဤကွာဟချက်သည် တိုင်းတာမှုနည်းလမ်း အရေးကြီးရသည့် အကြောင်းရင်းဖြစ်ပြီး မျက်နှာပြင်ပြားထုတ်လုပ်သူအားလုံးသည် ၎င်းတို့၏ထုတ်ကုန်များကို နာနိုမီတာအဆင့်တွင် တိကျစွာ ဖော်ပြနိုင်စွမ်း သို့မဟုတ် ရိုးသားမှု မရှိရသည့် အကြောင်းရင်းဖြစ်သည်။

အခြေခံစိန်ခေါ်မှု- သင်တိုက်ရိုက်နှိုင်းယှဉ်၍မရသောအရာကို တိုင်းတာခြင်း

ပြားချပ်မှုကို မိုက်ခရိုမီတာမှ တိကျစွာတိုင်းတာခြင်းသည် အတော်လေးရိုးရှင်းပါသည်- ပြားချပ်သည်ဟု သိရှိထားသော ရည်ညွှန်းချက်ပေါ်တွင် ပန်းကန်ပြားကိုတင်ပါ၊ မျက်နှာပြင်ကို စနစ်တကျစစ်ဆေးပြီး သွေဖည်မှုများကို မှတ်တမ်းတင်ပါ။ သို့သော် ပြားချပ်မှုကို နာနိုမီတာမှ တိကျစွာတိုင်းတာခြင်းသည် အခြေခံပြဿနာတစ်ခုကို ဖြစ်ပေါ်စေသည် - နှိုင်းယှဉ်စံနှုန်းအဖြစ် ဆောင်ရွက်ရန် လုံလောက်သော ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာ ရည်ညွှန်းမျက်နှာပြင် ပြားချပ်မှုမရှိပါ။

နာနိုမီတာစကေးတွင်၊ ရည်ညွှန်းမျက်နှာပြင်များအပါအဝင် မျက်နှာပြင်တိုင်းတွင် ၎င်း၏ကိုယ်ပိုင်ပုံသဏ္ဍာန်အမှားအယွင်းရှိသည်။ ဆွဲငင်အားသည် မျက်နှာပြင်ကြီးများကို တိုင်းတာ၍ ပုံပျက်စေသည်။ အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုများသည် ပန်းကန်ပြားတစ်လျှောက် အပူကျယ်ပြန့်မှုကို ဖြစ်ပေါ်စေသည်။ လေစီးကြောင်းများနှင့် အသံဆူညံမှုများပင်လျှင် တွေ့ရှိနိုင်သော အကျိုးသက်ရောက်မှုများကို ဖြစ်ပေါ်စေနိုင်သည်။ တိုင်းတာခြင်းကိုယ်တိုင်က ဤအရာအားလုံးကို ထည့်သွင်းစဉ်းစားရမည်။

မက်ထရိုလိုဂျီသိပ္ပံပညာရှင်များသည် ဤစိန်ခေါ်မှုကိုဖြေရှင်းရန် ချဉ်းကပ်မှုများစွာကို တီထွင်ခဲ့ကြပြီး၊ ၎င်းတို့အများစုမှာ မတူညီသော ဦးတည်ချက် သို့မဟုတ် အနေအထားများတွင် ထပ်ခါတလဲလဲတိုင်းတာမှုများမှတစ်ဆင့် တူရိယာ၏အမှားကို ရှေးဟောင်းပစ္စည်း၏အမှားနှင့် သင်္ချာနည်းအရ ခွဲခြားခြင်းပါဝင်သည်။

အဓိကတိုင်းတာခြင်းနည်းလမ်းများနှင့်ကိရိယာများ

အီလက်ထရွန်းနစ် အဆင့်များနှင့် စောင်းအာရုံခံကိရိယာများသည် လက္ခဏာရပ်များကို ဖော်ထုတ်ရန်အတွက် အလွန်အသုံးဝင်သော ကိရိယာများထဲတွင် ပါဝင်သည်။မျက်နှာပြင်ပြားကျယ်ပြန့်သော ဧရိယာများတစ်လျှောက် ပြားချပ်ချပ်ဖြစ်ခြင်း။ WYLER Leveltronic စီးရီး (ဆွစ်ဇာလန်) ကဲ့သို့သော တူရိယာများသည် 0.001 mm/m သို့မဟုတ် ပိုမိုကောင်းမွန်သော ထောင့်ချွန် ရုပ်ထွက်အရည်အသွေးများကို ရရှိစေပြီး ၎င်းသည် မီတာ ၁ ပေါ်တွင် အမြင့်ကွာခြားချက် ၁ မိုက်ခရိုမီတာကို ထောက်လှမ်းခြင်းနှင့် ညီမျှသည်။ မျက်နှာပြင်ကို ဇယားကွက်ပုံစံ (Union Jack နည်းလမ်း၊ cross pattern သို့မဟုတ် full grid) ဖြင့် စနစ်တကျ ဖြတ်သန်းသွားခြင်းဖြင့် ကျွမ်းကျင်သော မက်ထရိုပညာရှင်တစ်ဦးသည် မျက်နှာပြင်၏ ပြီးပြည့်စုံသော မြေမျက်နှာသွင်ပြင်မြေပုံကို တည်ဆောက်နိုင်သည်။

လေဆာ အင်တာဖယ်ရိုမက်ထရီသည် ဆပ်မိုက်ခရိုမီတာနှင့် နာနိုမီတာအဆင့်တွင် ပြားချပ်မှုအတွက် တိုင်းတာနိုင်စွမ်းတွင် အဆင့်လိုက်ပြောင်းလဲမှုကို ပေးစွမ်းသည်။ Renishaw XL-80 လေဆာ အင်တာဖယ်ရိုမီတာကဲ့သို့သော ကိရိယာတစ်ခုသည် မီတာအတော်ကြာ အကွာအဝေးများတွင် ၁ နာနိုမီတာထက် ပိုမိုကောင်းမွန်သော ပုံရိပ်ဖော်မှုအထိ ရွေ့လျားမှုကို တိုင်းတာနိုင်သည်။ မျက်နှာပြင်ပြားတိုင်းတာခြင်းတွင် လေဆာရောင်ခြည်ကို မျက်နှာပြင်တစ်လျှောက် ညွှန်ကြားထားပြီး အလင်းတန်းပြား သို့မဟုတ် ရည်ညွှန်းမှန်သည် ထိန်းချုပ်ထားသောလမ်းကြောင်းကို ခြေရာခံသည်။ ရောင်ပြန်ရောင်ခြည်တွင် သွေဖည်မှုများသည် မျက်နှာပြင်ပုံသဏ္ဍာန်ကို ဖော်ပြသည်။

အလင်းပြားများ — 30 နာနိုမီတာအောက် ပုံစံအမှားများပါရှိသော အလွန်အမင်း ඔප දැමීමීම ဖန် သို့မဟုတ် ဖျူးစ်ဆီလီကာ ရည်ညွှန်းချက်များ — ကို အသုံးပြု၍ အင်တာဖယ်ရိုမက်ထရစ် ပြားချပ်မှု တိုင်းတာခြင်းသည် တစ်ကြိမ်လျှင် စတုရန်းမီလီမီတာ ရာပေါင်းများစွာသော ဧရိယာများပေါ်တွင် မျက်နှာပြင်ပြားများကို နာနိုမီတာ တိကျမှုအထိ လက္ခဏာရပ်ဖော်ပြနိုင်သည်။ အမျိုးသား မက်ထရိုလိုဂျီ အင်စတီကျုများတွင် အသုံးပြုသော အပြည့်အဝ အပေါက်ပါ အင်တာဖယ်ရိုမီတာများသည် တိုင်းတာမှုတစ်ခုတည်းဖြင့် 600 မီလီမီတာ အချင်းဧရိယာများကို တိုင်းတာနိုင်သည်။

Capacitive displacement sensor များနှင့် air bearing probe များသည် နာနိုမီတာအဆင့် resolution နှင့် ထိတွေ့မှုမရှိဘဲ မျက်နှာပြင်ကို scan လုပ်နိုင်သည့် အခြားချဉ်းကပ်မှုကို ပေးဆောင်ပါသည်။ ၎င်းတို့ကို တိကျသော granite သို့မဟုတ် ceramic reference stages များနှင့် ပေါင်းစပ်အသုံးပြုလေ့ရှိပြီး ၎င်းတို့ကိုယ်တိုင်က motion reference အဖြစ်ဆောင်ရွက်ပြီး self-reference တိုင်းတာမှုစနစ်ကို ဖန်တီးပေးပါသည်။

Three-Plate နည်းလမ်း- ပြားချပ်မှုကို ကိုယ်တိုင်ရည်ညွှန်းခြင်း

သာလွန်ကောင်းမွန်သော ရည်ညွှန်းချက်မပါဘဲ ပြားချပ်ချပ်ဖြစ်မှုကို ရရှိရန် နှင့် အတည်ပြုရန်အတွက် အစွမ်းထက်ဆုံး ဂန္ထဝင်နည်းစနစ်များထဲမှ တစ်ခုမှာ three-plate နည်းလမ်းဖြစ်သည်။ ဤချဉ်းကပ်မှုတွင်၊ ပြားသုံးခုကို သတ်မှတ်ထားသော လည်ပတ်မှုနှင့် နှိုင်းယှဉ်မှုများဖြင့် တစ်ခုနှင့်တစ်ခု အပြန်အလှန် ပွတ်တိုက်ထားသည်။ လုပ်ငန်းစဉ်၏ သင်္ချာပညာသည် ပြားတစ်ခုရှိ စနစ်တကျအမှားအယွင်းများကို အခြားနှစ်ခုနှင့် ၎င်း၏ အပြန်အလှန် ဆက်သွယ်မှုမှတစ်ဆင့် ဖော်ထုတ်နိုင်ကြောင်း အာမခံသည် - ပြားများသည် ပြင်ပရည်ညွှန်းချက်ထက် ပြားချပ်ချပ် မျက်နှာပြင်ကို အတူတကွ သတ်မှတ်ပေးသည်။

ပြားသုံးပြားနည်းလမ်းသည် မြင့်မားသောတိကျမှုရှိသော မျက်နှာပြင်ပြားထုတ်လုပ်မှု၏ သမိုင်းဝင်အခြေခံအုတ်မြစ်ဖြစ်ပြီး ယနေ့တိုင်သက်ဆိုင်ရာရှိနေဆဲဖြစ်သည်။ ၎င်း၏ခေတ်မီအကောင်အထည်ဖော်မှုသည် ပြင်ဆင်မှုလုပ်ငန်းစဉ်ကို လမ်းညွှန်ရန်အတွက် ရိုးရာလက်ဖြင့်ပွတ်တိုက်ကျွမ်းကျင်မှုနှင့် အီလက်ထရွန်းနစ်တိုင်းတာမှုကို ပေါင်းစပ်ထားသည် - မျက်နှာပြင်ကို အထိအတွေ့ဖြင့် "ဖတ်" နိုင်သော ကျွမ်းကျင်သောလက်မှုပညာရှင်များ၊ လက်များက သိရှိသည့်အရာကို ပမာဏသတ်မှတ်သည့် အီလက်ထရွန်းနစ်အဆင့်များနှင့် ပေါင်းစပ်ထားသည်။

ရလဒ်အနေဖြင့် ပေါင်းစည်းထားသော လုပ်ငန်းစဉ်တစ်ခုဖြစ်သည်- ပွတ်တိုက်ခြင်း၊ တိုင်းတာခြင်းနှင့် ရွေးချယ်ထားသော ပစ္စည်းဖယ်ရှားခြင်း ዑደብတစ်ခုစီသည် ပြားသုံးချပ်စလုံးကို ပြီးပြည့်စုံသော ပြားချပ်ချပ်အခြေအနေသို့ တဖြည်းဖြည်းနီးကပ်စေသည်။ အကန့်အသတ်ဖြစ်စေသောအချက်မှာ နည်းလမ်းမဟုတ်ဘဲ အလုပ်လုပ်သူများ၏ စိတ်ရှည်မှု၊ ကျွမ်းကျင်မှုနှင့် ရရှိနိုင်သော တိုင်းတာရေးကိရိယာများဖြစ်သည်။

တိုင်းတာမှုပတ်ဝန်းကျင်၏ အခန်းကဏ္ဍ

နာနိုမီတာအဆင့်တွင်၊ တိုင်းတာမှုပတ်ဝန်းကျင်သည် တိုင်းတာမှုစနစ်၏ အစိတ်အပိုင်းတစ်ခု ဖြစ်လာသည်။ အပူချိန်ကို အမည်ခံတန်ဖိုးတစ်ခုအထိသာမက တင်းကျပ်သော band (ပုံမှန်အားဖြင့် ±0.5°C သို့မဟုတ် ပိုမိုကောင်းမွန်သော) အထိ ထိန်းချုပ်ရမည်၊ အဘယ်ကြောင့်ဆိုသော် 0.1°C တွင် 1 မီတာရှိသော ဂရန်နိုက်ပြား၏ အပူချဲ့ထွင်မှုသည် နာနိုမီတာ ရာပေါင်းများစွာဖြစ်သောကြောင့်ဖြစ်သည်။ စိုထိုင်းဆသည် ဂရန်နိုက်မျက်နှာပြင်ကိုယ်တိုင်နှင့် လေဆာ interferometry ရောင်ခြည်များဖြတ်သန်းသွားသော လေ၏ refractivity ကို သက်ရောက်မှုရှိသည်။ အဆောက်အဦဖွဲ့စည်းပုံ၊ HVAC သို့မဟုတ် အနီးအနားရှိ စက်ပစ္စည်းများမှ တုန်ခါမှုသည် static flatness တိုင်းတာမှုများကို ပျက်စီးစေသည့် dynamic position error များကို ဖြစ်ပေါ်စေပါသည်။

ထို့ကြောင့် မက်ထရိုလိုဂျီဓာတ်ခွဲခန်းများနှင့် အတိကျဆုံးဂရနိုက်ထုတ်လုပ်သူများသည် ထိန်းချုပ်ထားသောပတ်ဝန်းကျင်များတွင် သိသိသာသာရင်းနှီးမြှုပ်နှံကြသည်။ တုန်ခါမှုသီးသန့်ထားသောကြမ်းခင်းများ၊ ပတ်လည်တွင် တုန်ခါမှုဆန့်ကျင်ရေးမြောင်းများနှင့် တိတ်ဆိတ်ငြိမ်သက်သော ခေါင်မိုးပေါ်ကကရိန်းများပါရှိသော ရည်ရွယ်ချက်ရှိရှိတည်ဆောက်ထားသော အပူချိန်နှင့်စိုထိုင်းဆထိန်းချုပ်ထားသောအခန်းသည် ဇိမ်ခံပစ္စည်းမဟုတ်ပါ - အမြင့်ဆုံးပြားချပ်မှုအဆင့်များကိုရရှိရန်နှင့် အတည်ပြုရန်အတွက် နည်းပညာဆိုင်ရာလိုအပ်ချက်တစ်ခုဖြစ်သည်။

တုန်ခါမှုကာကွယ်သည့် မြောင်းများ (ပုံမှန်အားဖြင့် ၅၀၀ မီလီမီတာ အကျယ်နှင့် ၂၀၀၀ မီလီမီတာ အနက်ရှိသော တိုင်းတာခန်းကို ဝန်းရံထားသည်) သည် တိုင်းတာသည့်ကြမ်းပြင်ကို အဆောက်အဦတုန်ခါမှုမှ ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာ ခွဲထားသည်။ အလွန်မြင့်မားသောအစွမ်းသတ္တိရှိသော ကွန်ကရစ်ဖြင့် ၁၀၀၀ မီလီမီတာ သို့မဟုတ် ထို့ထက်ပိုသော အထူအထိ သွန်းလောင်းထားသော ကြမ်းပြင်များသည် ပြောင်းလဲနေသော အနှောင့်အယှက်များကို ခုခံရန် လိုအပ်သော ထုထည်နှင့် တောင့်တင်းမှုကို ပေးစွမ်းသည်။ ဤအခြေခံအဆောက်အအုံ ရင်းနှီးမြှုပ်နှံမှုများသည် ထုတ်လုပ်သူတစ်ဦး ယုံကြည်စိတ်ချရသော ရရှိနိုင်မှုနှင့် အတည်ပြုနိုင်သည့် ပြားချပ်မှုအဆင့်များကို တိုက်ရိုက်ဆုံးဖြတ်ပေးသည်။

ချိန်ညှိမှု ခြေရာခံနိုင်မှု- ယုံကြည်မှု ကွင်းဆက်

ပြားချပ်မှုတိုင်းတာခြင်းသည် ၎င်းကိုပြုလုပ်ရန်အသုံးပြုသောကိရိယာများကဲ့သို့သာ ယုံကြည်စိတ်ချရပါသည် - ထိုကိရိယာများသည် ၎င်းတို့၏ စံကိုက်ညှိမှုကို အမျိုးသားနှင့် နိုင်ငံတကာစံနှုန်းများနှင့် ခြေရာခံနိုင်မှသာ ယုံကြည်စိတ်ချရမည်ဖြစ်ပါသည်။ တိကျသော မက်ထရိုလိုဂျီတွင်၊ ဤခြေရာခံနိုင်မှုကွင်းဆက်သည် ရွေးချယ်ခွင့်မရှိပါ- ၎င်းသည် တိုင်းတာမှုယုံကြည်စိတ်ချရမှု၏ အခြေခံအုတ်မြစ်ဖြစ်သည်။

မီတာ၏ Système international d'unités (SI) အဓိပ္ပာယ်ဖွင့်ဆိုချက်ကို ယခုအခါ အမေရိကန်ပြည်ထောင်စုရှိ NIST၊ ဂျာမနီရှိ PTB၊ ယူနိုက်တက်ကင်းဒမ်းရှိ NPL နှင့် တရုတ်နိုင်ငံရှိ NIM ကဲ့သို့သော အမျိုးသားမက်ထရိုလော်ဂျီအင်စတီကျုများ (NMIs) မှ ထိန်းသိမ်းထားသော အလင်းအလျင်နှင့် လေဆာကြိမ်နှုန်းစံနှုန်းများမှတစ်ဆင့် အကောင်အထည်ဖော်လျက်ရှိသည်။ ပြည်နယ် သို့မဟုတ် အမျိုးသားမက်ထရိုလော်ဂျီအင်စတီကျုများမှ ထုတ်ပေးသော စံကိုက်ညှိလက်မှတ်များသည် ဤအဓိကအကောင်အထည်ဖော်မှုများအတွက် ခြေရာခံနိုင်သော အဆင့်မြင့်စံနှုန်းများနှင့် သီးခြားတူရိယာတစ်ခုကို နှိုင်းယှဉ်ထားကြောင်း မှတ်တမ်းတင်ထားသော အထောက်အထားများကို ပေးပါသည်။

တိကျသောကျောက်ပြားထုတ်လုပ်သူအတွက်၊ အသိအမှတ်ပြု မက်ထရိုလိုဂျီအဖွဲ့အစည်းများမှ တိုင်းတာခြင်းတူရိယာအားလုံးကို ချိန်ညှိထားခြင်း — အမျိုးသားစံနှုန်းသို့ ခြေရာခံနိုင်သော လက်မှတ်များပါရှိခြင်း — ဆိုလိုသည်မှာ ၎င်းတို့၏ထုတ်ကုန်များတွင် အစီရင်ခံထားသော ပြားချပ်မှုတန်ဖိုးများသည် အလိုအလျောက်ကိန်းဂဏန်းများမဟုတ်ဘဲ ပမာဏသတ်မှတ်ထားသော မသေချာမရေရာမှုပါရှိသော SI-ခြေရာခံနိုင်သော တိုင်းတာမှုများဖြစ်သည်။

နိဂုံးချုပ်- တိုင်းတာခြင်းသည် အတည်ပြုခြင်းသက်သက်မဟုတ်ဘဲ ထုတ်လုပ်ခြင်းလည်းဖြစ်သည်

မျက်နှာပြင်ပြားပြားပြားချပ်ချပ်ကို နာနိုမီတာတိကျမှုအထိ တိုင်းတာခြင်းသည် နောက်ဆုံးအရည်အသွေးစစ်ဆေးမှုတစ်ခုမျှသာမဟုတ်ပါ။ ၎င်းသည် ထုတ်လုပ်မှုလုပ်ငန်းစဉ်၏ မရှိမဖြစ်အစိတ်အပိုင်းတစ်ခုဖြစ်ပြီး ပတ်တီးစည်းနေစဉ်အတွင်း ပြင်ဆင်မှုအဆင့်တစ်ခုစီကို လမ်းညွှန်ပေးပြီး လိုအပ်သောသတ်မှတ်ချက်သို့ မျက်နှာပြင်ကို မောင်းနှင်ပေးသည့် တုံ့ပြန်ချက်ကို ပေးပါသည်။ တိကျစွာတိုင်းတာနိုင်စွမ်းမရှိဘဲ တိကျစွာထုတ်လုပ်နိုင်စွမ်းမရှိပါ။

ဂရန်နိုက်မျက်နှာပြင်ပြားများတွင် နာနိုမီတာအဆင့် ပြားချပ်မှုကို ရရှိပြီး ယုံကြည်စိတ်ချစွာ အတည်ပြုနိုင်သည့် စွမ်းရည်သည် ကမ္ဘာ့စွမ်းရည်အရှိဆုံး တိကျမှုထုတ်လုပ်သူအနည်းငယ်ကို အများစုနှင့် ခွဲခြားပေးသည့် စစ်မှန်သောစွမ်းရည်နယ်နိမိတ်ကို ကိုယ်စားပြုသည်။ ၎င်းတွင် မှန်ကန်သောပစ္စည်း၊ မှန်ကန်သောပစ္စည်းကိရိယာများ၊ မှန်ကန်သောပတ်ဝန်းကျင်၊ မှန်ကန်သောတူရိယာများ၊ ခြေရာခံနိုင်သောစံနှုန်းများနှင့် ချိန်ညှိထားပြီး လေ့ကျင့်မှုနှင့် အတွေ့အကြုံရှိသူများက ၎င်းတို့ကို မှန်ကန်စွာအသုံးပြုရန် လည်ပတ်ရန် လိုအပ်သည်။

အမျိုးသားစံချိန်စံညွှန်းဓာတ်ခွဲခန်းများ၊ တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းကုမ္ပဏီများ သို့မဟုတ် အဆင့်မြင့် CMM စက်ရုံများတွင်ဖြစ်စေ တိကျသော မျက်နှာပြင်ပြားများကို အသုံးပြုသူများအတွက် ၎င်းတို့၏ပြားများကို မည်သို့တိုင်းတာသည်ကို နားလည်ခြင်းသည် ရိုးရှင်းသောစိုးရိမ်မှုတစ်ခုမဟုတ်ပါ။ ထိုပြားများတွင် ပြုလုပ်သောတိုင်းတာမှုများကို ယုံကြည်စိတ်ချရနိုင်မနိုင် ၎င်းက တိုက်ရိုက်ဆုံးဖြတ်ပေးသည်။